被動攝像頭透鏡污跡檢測

（中國AI網 2025年04月14日）XR設備具有捕獲和處理圖像數據的能力。然而，目前缺乏自診斷方法來確定圖像捕獲設備是否處于良好的工作狀態。例如，當油污和/或灰塵出現在設備攝像頭的透鏡時，可能會產生額外的光線散射，并導致圖像質量下降，例如模糊、清晰度下降等。

在一份專利申請中，蘋果介紹了一種被動攝像頭透鏡污跡檢測方法。

圖1示出，由于在透鏡表面的污跡而可能發生的光線散射。如圖所示，規則光波102通過具有光軸116的外透鏡104，所述外透鏡104將所述規則光波102通過所述內透鏡106對焦，最終到達所述像面108。強或明亮的光線，例如，從高反射物體或被動光源發出的光線110，可以通過外透鏡104到達成像平面108。

根據實施例，如果在外透鏡104存在污跡或其他外來物質（灰塵等），則在外透鏡104可以發生額外的散射112。附加散射112可導致附加反射光114到達成像平面108。所述額外反射光114可能對捕獲的圖像具有不利影響，例如非自然模糊。

蘋果指出，發明所述有助于識別由此類額外反射光114引起的不利影響，并且可以進一步向用戶提供表明透鏡可能存在應由用戶清除的污跡的指示。

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