檢測(cè)顯示系統(tǒng)變形

（中國AI網(wǎng) 2025年08月12日）頭顯在使用和/或存儲(chǔ)過程中會(huì)受到非彈性機(jī)械和/或熱機(jī)械變形的影響，這會(huì)改變頭顯的位置，破壞頭顯組件之間的工廠校準(zhǔn)位置關(guān)系。非彈性變形的各種機(jī)制通常統(tǒng)稱為“老化因素”，包括磨損粗暴處理、掉落、極端溫度/濕度環(huán)境和/或其他來源。老化因素對(duì)頭顯組件與自身和/或用戶的對(duì)齊產(chǎn)生不利影響，從而對(duì)用戶如何感知數(shù)字內(nèi)容產(chǎn)生負(fù)面影響。

通常，為了檢測(cè)和糾正頭顯的錯(cuò)位，頭顯包括在使用頭顯期間操作的傳感器。然而，傳統(tǒng)的傳感器只能檢測(cè)在短時(shí)間內(nèi)發(fā)生的彈性“磨損”變形，并且與使用直接相關(guān)。特別是，傳統(tǒng)的傳感器無法檢測(cè)影響頭戴式顯示器的“老化因素”。

在一項(xiàng)專利申請(qǐng)中，谷歌就提出了一種相關(guān)的解決方案。

變形檢測(cè)裝置采用一個(gè)或多個(gè)傳感器，并配置為檢測(cè)頭顯的傳感器、顯示器和/或其他組件之間的位置和角度關(guān)系的一個(gè)或多個(gè)變化。變形檢測(cè)裝置存儲(chǔ)位置和角度關(guān)系的變化，以便在后續(xù)的（重新）校準(zhǔn)過程中使用。

舉例來說，變形檢測(cè)裝置構(gòu)造為便攜式殼體并用于容納所述頭顯。在各種實(shí)施例中，當(dāng)頭顯保持在變形檢測(cè)裝置內(nèi)時(shí)，變形檢測(cè)裝置配置為給頭顯充電。另外，當(dāng)頭顯在變形檢測(cè)裝置中充電時(shí)，所述一個(gè)或多個(gè)傳感器檢測(cè)頭顯不同部分的位置和角度關(guān)系，以識(shí)別與原始配置的任何偏差。所以，所述一個(gè)或多個(gè)傳感器基于存儲(chǔ)在包括處理器設(shè)備和存儲(chǔ)單元的處理系統(tǒng)中的原始配置來檢測(cè)位置和角度關(guān)系。

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